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每一個(gè)軟件項(xiàng)目都有一個(gè)最優(yōu)的測(cè)試量。
正確
暫無解析
白盒測(cè)試不僅與程序內(nèi)部結(jié)構(gòu)有關(guān)，還要考慮程序的功能要求
用黑盒技術(shù)設(shè)計(jì)測(cè)試用例的方法之一為
在下面所列舉中的邏輯測(cè)試覆蓋中，測(cè)試覆蓋最弱的是
找出的軟件缺陷越多，說明剩下的軟件缺陷越少。
階段評(píng)審與同行評(píng)審的區(qū)別。
